专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]具有外部源的半导体制程设备及其外部-CN202011514962.0在审
  • 洪再和 - 洪再和
  • 2020-12-21 - 2021-11-12 - C23C16/44
  • 本发明是一种具有外部清洁用电源的半导体制程设备及其外部源,该外部源包含一源产生装置、一射频电源供应装置及一切换装置;其中该切换装置连接于射频电源供应装置与该电源产生装置之间,以决定该射频电源供应装置产生的射频电源输出至该电源产生装置或该半导体制程设备;由于该外部源与该半导体制程设备使用相同频率的射频电源,故能有效减少外部源设置的空间,加上源产生装置未内建射频电源供应装置,有效减少设置于半导体制程设备上所占的空间,有助于安装及后续检修作业
  • 具有外部电浆源半导体设备及其
  • [发明专利]基板制程设备-CN202110277232.1在审
  • 黄一原;刘镒诚 - 凌嘉科技股份有限公司
  • 2021-03-15 - 2022-08-05 - H01J37/32
  • 一种基板制程设备,其包含制程腔体及基板载台。所述制程腔体具有入口壁及环绕壁。所述入口壁经配置以接收来自一远程源的输出。所述环绕壁形成腔体内表面,所述内表面定义内部空间以接收一基板。所述基板载台可升降地设置于所述制程腔体的所述内部空间,并具有面对所述入口壁的基板支撑面。所述环绕壁,在所述制程腔体的截面中,具有第一区段及第二区段。所述第一区段对应于所述基板载台的制程区域,并具有第一宽度。所述第二区段相较于所述第一区段更远离所述入口壁,并具有大于所述第一宽度的宽度。
  • 基板制程设备
  • [实用新型]基板制程设备-CN202120536079.5有效
  • 黄一原;刘镒诚 - 凌嘉科技股份有限公司
  • 2021-03-15 - 2021-11-12 - H01J37/32
  • 一种基板制程设备,其包含制程腔体及基板载台。所述制程腔体具有入口壁及环绕壁。所述入口壁经配置以接收来自一远程源的输出。所述环绕壁形成腔体内表面,所述内表面定义内部空间以接收一基板。所述基板载台可升降地设置于所述制程腔体的所述内部空间,并具有面对所述入口壁的基板支撑面。所述环绕壁,在所述制程腔体的截面中,具有第一区段及第二区段。所述第一区段对应于所述基板载台的制程区域,并具有第一宽度。所述第二区段相较于所述第一区段更远离所述入口壁,并具有大于所述第一宽度的宽度。
  • 基板制程设备
  • [发明专利]层的蚀刻制程-CN01118337.3无效
  • 陈永修;张欣怡;黄于玲 - 矽统科技股份有限公司
  • 2001-05-24 - 2003-01-01 - H01L21/311
  • 一种介层的蚀刻制程,是对一硅基底表面的一介层进行一富高分子的蚀刻制程,以去除掉部分的介层,并于介层与硅基底的曝露表面上形成高分子薄膜;对高分子薄膜进行氧处理,以使其结构松散;最后进行湿蚀刻制程,将高分子薄膜完全去除,并同时去除掉残留在硅基底表面的介层。通过富高分子的蚀刻制程去除第二介层,并额外利用氧处理高分子薄膜,增加蚀刻终点的稳定度,并降低离子轰击现象所产生的破坏,确保后续的湿蚀刻制程可完全去除第一介层的效果。
  • 介电层蚀刻
  • [发明专利]胶带以及半导体封装的制程方法-CN201710089287.3有效
  • 郭至祥;黄智文 - 稳懋半导体股份有限公司
  • 2017-02-20 - 2020-12-04 - C09J7/38
  • 本发明公开了一种抗胶带以及半导体封装的制程方法,抗胶带包含有一基材以及形成于该基材上的一黏着层,其中该黏着层选自由丙烯酸黏合剂、光固化树脂与光起始剂所构成的群组的其中之一。于一清洗制程前,该抗胶带黏贴于该半导体封装的一导线架的一背面,于一模封制程后,该抗胶带自该导线架移除。于该抗胶带通过照射一能量射线而固化及自导线架移除后,于该半导体封装的一模封塑料上不会遗留残胶,该模封塑料于该模封制程中所形成。
  • 抗电浆胶带以及半导体封装方法
  • [发明专利]基板处理装置-CN202011477968.5有效
  • 马荣才;尹星进;徐孝政;朴钟佑 - PSK有限公司
  • 2020-12-15 - 2023-10-27 - H01L21/67
  • 所述基板处理装置包括:制程处理单元,其提供执行处理所述基板的处理空间;产生单元,其通过使制程气体放电来产生所述且将所述供应至所述处理空间。所述产生单元提供:腔室,其具有所述的产生空间;天线,其经缠绕以在所述腔室的外部包围所述腔室;第一涂膜,其覆盖所述腔室的内部壁且包含氟化钇(YF3
  • 处理装置

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